2017年第78回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

6 薄膜・表面 » 6.6 プローブ顕微鏡

[7a-C24-1~10] 6.6 プローブ顕微鏡

2017年9月7日(木) 09:30 〜 12:00 C24 (C24)

宮田 一輝(金沢大)

10:30 〜 10:45

[7a-C24-5] 終端元素が規定されたAFM探針による単原子の電気陰性度測定

宮嵜 洋記1、小野田 穣1、杉本 宜昭1 (1.東大新領域)

キーワード:原子間力顕微鏡

本研究では異なる元素で終端された2種類のAFM探針を使用して、単原子の電気陰性度の値を実験的に決定した。
最初に、蒸着によりSi製の探針をAlでコートした。その探針を用いて、Alを蒸着したSi表面上での結合エネルギー測定を行った。その結果、Alでコートされた探針が常にSi、Alのどちらかで終端されることを実証した。
最後に、Alコート探針により実験的に目的の原子の電気陰性度が決定できることを示した。