[H43-46] ガラス固化技術

[H43] ガラス固化プロセス高度化研究

（7）高温X線CTスキャナから見た仮焼層の構造に及ぼす廃液組成の影響

^〇渡邉圭太¹, 矢野哲司¹, 池知直子¹, 天笠友洋¹, 岸哲生¹, 竹下健二¹, 南和宏², 越智英治² (1.東工大, 2.日本原燃)

キーワード：ガラス固化, 仮焼層, 模擬廃棄物, X線CTスキャナ

我々のグループでは、液体供給式直接通電セラミックメルター（LFCM）を用いたガラス固化溶融において、廃液およびガラスビーズが供給されて形成される仮焼層（Cold Cap）の構造を明らかにするため、実験室において仮焼層を模擬的に形成させるとともに、高温X線CTイメージング法を適用し、得られたイメージの解析を進め、仮焼層内部構造について明らかにしてきた。本研究では、廃液組成の影響を調べるため、組成の異なる模擬廃液を用いて模擬仮焼層を形成し、その形成状況を高温X線CTイメージング法によりその場観察した。廃液成分の変化により形成される仮焼層内の空隙率はその温度依存性に明瞭な違いが観測され、仮焼層の物性に影響を与えることが推察された。