[1E01-04] 線量測定1

[1E01] モンテカルロ法によるサイバーナイフ治療施設からの漏えい線量評価の高度化

*小川 喜弘¹、矢作 遼太郎²、満石 敦² (1. 近畿大学総合社会学部、2. 日本アキュレイ株式会社)

キーワード：モンテカルロ法、PHITS、統計誤差、点検出器、サイバーナイフ

6MeV電子線により発生するエックス線を用いたサイバーナイフ治療施設における漏えい線量を評価するために，粒子・重イオン輸送統合コードシステムであるPHITSを用いたモンテカルロ輸送計算による３次元遮へい計算手法を開発したが、計算された漏えい線量結果の相対誤差は，1.5メートル以上の厚いコンクリート遮へい透過後において数十％程度であった。妥当な計算時間内でこの相対誤差を十分小さくするために，飛跡検出器だけでなく点検出器による漏えい線量推定を取り入れた３次元遮へい計算手法に改良した。今回，それらの計算結果について報告する。