[3O01-07] 量子ビーム利用・計測

[3O05] イオンビーム及びX線照射に伴う模擬文化財試料の損傷のFT-IR測定

*小栗 慶之¹、長谷川 純¹、福田 一志¹、羽倉 尚人² (1. 東工大、2. 東京都市大)

キーワード：文化財分析、放射線損傷、吸収線量、化学結合、FT-IR

目的：PIXE，RBS等のイオンビーム分析やXRF等のX線分析による文化財の測定は，貴重な試料を損傷する潜在的なリスクを伴う．そこで，絵画の分析を想定し，絵具の基材としての膠を模擬したゼラチン試料を用意し，これらに陽子線またはX線を照射後，試料表面の化学結合の変化を調べた．

方法：陽子線照射は2.5 MeV陽子を用いて真空中で行った．X線照射にはAgターゲットのX線管を用い，管電圧は40 kVとした．試料の吸収線量はそれぞれ100 kGy，10 Gy程度であった．表面の化学結合の変化はFT-IR（フーリエ変換赤外分光分析）で行った．

結論：陽子線照射によりFT-IRスペクトル上でN-H，C=O等の化学結合に起因する吸収ピークの強度に変化が見られ，アミド基の一部が分解されたことが示唆された．一方，X線照射ではスペクトルに有意な変化は見られなかった．