いいね! 5 コメント (11) [P35] 原子層微細デバイスの放射光スペクトルイメージング~インフォマティクスを活用したデータ解析~Spectral imaging of atomic layer micro-devices using synchrotron soft X-rays high--throughput data analysis using informatics technique *永村 直佳 (1. NIMS)