Schedule 6 2:15 PM - 2:30 PM [1W16] X線反射率法によるイオン液体|水界面構造の電位依存性の解析 〇片倉 誠士1、天野 健一1、作花 哲夫1、Bu Wei2、Lin Binhua2、Schlossman Mark3、西 直哉1 (1. 京都大学大学院 工学研究科、2. University of Chicago、3. University of Illinois at Chicago)
