09:30 〜 10:00
○K. Goda 1,2,3, H. Mikami 1, Y. Suzuki 1, C. Lei 1, Y. Ozeki 1 (1.Univ. of Tokyo (Japan), 2.Univ. of California, Los Angeles (USA), 3.Japan Science and Technology Agency (Japan))
Oral Presentation
03: Optical Metrology
2017年8月21日(月) 09:30 〜 11:30 Room A (FUJI) (42F)
Session Chair:T. Yasui(Tokushima Univ.)
09:30 〜 10:00
○K. Goda 1,2,3, H. Mikami 1, Y. Suzuki 1, C. Lei 1, Y. Ozeki 1 (1.Univ. of Tokyo (Japan), 2.Univ. of California, Los Angeles (USA), 3.Japan Science and Technology Agency (Japan))
10:00 〜 10:15
○M. Uchida 1,2, K. Takashi 1,2, Y. Tanaka 1, K. Minoshima 1,2 (1.The Univ. of Electro-Communications (Japan), 2.JST, ERATO MINOSHIMA Intelligent Optical Synthesizer Project (Japan))
10:15 〜 10:30
○T. Kato 1,2, M. Uchida 1,2, Y. Tanaka 1, K. Minoshima 1,2 (1.The Univ. of Electro-Communications (Japan), 2.JST, ERATO MINOSHIMA Intelligent Optical Synthesizer Project (Japan))
10:30 〜 10:45
○T.C. Truong 1, T.Q. Banh 1,2, T. Shioda 1 (1.Saitama Univ. (Japan), 2.Sevensix Inc (Japan))
10:45 〜 11:00
○J. Park 1, S. Kim 2, B.S. Kim 1, Y. Lu 3, Y.-J. Kim 4, S.-W. Kim 1 (1.KAIST (Korea), 2.KIMM (Korea), 3.HFUT (China), 4.NTU (Singapore))
講演取消
11:00 〜 11:15
○M.F. Costa 1 (1.Univ. do Minho (Portugal))
11:15 〜 11:30
○J.E. Meneses 1, J.F. Vergel 1 (1.Univ. Industrial de Santander (Colombia))
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