スケジュール 0 10:00 〜 10:15 [12D1-01] バウンダリスキャンテスト回路を用いた待機モード時電気試験を可能にするTAPCの開発 〇池内 康祐1、神田 道也2、平井 智士2、四柳 浩之3、橋爪 正樹3 (1. 徳島大学工学部電気電子工学科、2. 徳島大学大学院先端技術科学教育部、3. 徳島大学大学院社会産業理工学研究部) 抄録パスワード認証抄録の閲覧にはパスワードが必要です。パスワードを入力して認証してください。 パスワード 認証
