官能検査システム化技術・検査技術

2021年3月18日(木) 10:45 〜 11:55 Aセッション (Aセッション)

座長:野中一洋

10:45 〜 11:10

[18A3-01] [依頼講演] 光散乱を利用した精密研磨製品の欠陥検出

〇坂田義太朗¹ (1. 産業技術総合研究所)

11:10 〜 11:25

〇木下裕敬¹ (1. 株式会社デクシス)

11:25 〜 11:40

〇原靖彦¹、田中宏卓¹、白井健二¹、菅野純一²、細島侑²、滝沢義信² (1. 日本大学、2. ヴィスコ・テクノロジーズ)

11:40 〜 11:55

〇岡大輔¹、本間知夫²、茂木和弘¹、白石洋一¹ (1. 群馬大学大学院、2. 前橋工科大学)