日本金属学会2021年秋期(第169回)講演大会

講演情報

ポスターセッション

10. エネルギー関連材料 » エネルギー関連材料

[P] P56~P60

2021年9月14日(火) 09:00 〜 10:30 Zoomポスター会場

09:00 〜 10:30

[P57] Deep Learningを用いた透過型電子顕微鏡画像解析技術の開発

*國分 悠輔1、薮内 聖皓3、森下 和功2 (1. 京大エネ科(院生)、2. 京大エネ研(准教授)、3. 京大エネ研(助教))

キーワード:照射欠陥、透過型電子顕微鏡、画像解析技術、Deep Learning、転位

TEMによる照射欠陥の測定・解析は、実験研究者の主観が大きいため、新規参入者のハードルが高く、研究者ごとの結果の差異も大きい。これらを解決するために、Deep Learningを用いた解析技術の開発を目的とした。

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