[S1] S1 機能コアの材料科学 II (1)

[S1.15] 微分位相コントラストSTEMを用いたYSZ粒界スペースチャージ層の直接観察

*遠山 慧子¹、関 岳人¹、馮 斌¹、幾原 雄一^1,2、柴田 直哉^1,2 (1. 東大工、2. JFCC)

キーワード：粒界、走査透過電子顕微鏡、YSZ、スペースチャージ、電場観察

走査透過電子顕微鏡を用いた電場観察手法を発展させ，立方晶YSZ粒界に存在すると予測されていた粒界スペースチャージ層の観察を試みた．その結果スペースチャージに起因する電場の直接観察に成功した．