[G] 電気・電子・光関連材料

[158] テラヘルツ分光法による結晶欠陥の分析に向けた液晶性分子の結晶成長及び評価

*安藤 駿汰¹、佐々木 哲朗¹ (1. 静岡大工)

キーワード：テラヘルツ、結晶成長、液晶

単結晶の分子に対して結晶内の欠陥を操作し、テラヘルツ分光測定のスペクトルを解析することで結晶性の分析を目指した。実験では液晶性分子に対して溶融法を用いて再結晶させ、評価を行った。