[G] 分析・解析・評価

[278] アルミニウム合金線における塑性変形のCMOS-EBSD評価

*冨永 皓祐¹、後藤 和宏¹、坂本 慧¹ (1. 住友電気工業株式会社)

キーワード：EBSD、アルミニウム合金、ひずみ

従来に比べ検出速度が向上した、CMOS検出器を搭載EBSDを用いて、加工したアルミニウム合金を高精度・広範囲で評価することで加工度の逆算を試みたので結果を報告する。