[P] P185~P198

[P185] 変形組織観察によるミクロ領域における応力・ひずみ分布の解析

*松尾 啓史¹、森川 龍哉²、山﨑 重人²、田中 將己² (1. 九州大工（院生）、2. 九州大工)

キーワード：Electron backscattering diffraction(EBSD))、Digital image correration(DIC)、Deformation structure、Internal stresses、Tension test

Ni基超合金Inconel X-750について、SEM内で引張と変形組織のその場観察を行った。デジタル画像相関法とHR-EBSD法の併用により、同一の微細領域におけるひずみと応力を解析し、局所的な応力-ひずみ曲線を作製した。