[P] P266~P278

[P276] 加算平均を用いた Rietveld 法による Ba₈Cu_xSi_46-x クラスレートの構造解析

*安藤 蒼生¹、高木 健太郎²、佐伯 龍聖³、松川 祐子³、有田 誠³、宗藤 伸治³ (1. 大分上野丘高校、2. 九州大工（院生）、3. 九州大工)

キーワード：熱電材料、構造物性、クラスレート、Rietveld法、加算平均

熱電材料への応用が期待されるBa-Cu-Siクラスレートの構造解析にRietveld法を適用した。XRD測定時のスキャン速度や加算平均の標本数が回折プロファイルのS/N比及び解析における信頼性因子Sに与える影響を調査した。