14:30 〜 14:45 [170] その場電子顕微鏡法によるタングステンナノワイヤー成長の観察と力応答解析 *鈴木 快聖1、吉澤 広樹1、木塚 徳志2 (1. 筑波大院、2. 筑波大) キーワード:タングステン、その場観察、タングステンナノワイヤー、透過電子顕微鏡 本研究では、タングステン(W)ナノ接点を引っ張り変形させ、材料力学的試験が可能なその場透過電子顕微鏡法(TEM)を用いて、Wナノワイヤーの成長を試みた。