17:40 〜 17:55
[19018-19-02] 非破壊式放射能測定装置のまつたけ試料スクリーニング検査への適用
試料を切り刻み均質化して容器につめて放射能測定をする従来手法ではなく、試料をそのままの測定する非破壊式放射能測定装置が開発され利用されている。本研究ではこのような手法で測定した試料を、試料を切り刻む前処理を伴うGe検出器を用いて測定し比較を行った。この結果より本手法のまつたけ試料に対するスクリーニング検査への適用性について検討した。
一般講演
2021年7月7日(水) 17:25 〜 17:55 第4会場
座長:津旨 大輔(電中研)
17:40 〜 17:55