第83回分析化学討論会

講演情報

(ポスター講演)

一般ポスター/テクノレビューポスター

一般ポスター-2

2023年5月21日(日) 13:15 〜 15:00 P会場 (P会場)

13:15 〜 15:00

[P2112] fsLA-spICP-MSによる材料表面の粒子状汚染物質評価技術の基礎検討

○山下 真弘1、奥田 勇気2 (1. 京セラ(株)、2. 西進商事(株))

キーワード:spICP-MS、fsLA-spICP-MS、LA-ICP-MS、nanoparticle

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