[17p-P3-1~10] 12.2 評価・基礎物性

[17p-P3-3] KFMによるハイパーブランチポリスチレン保護金ナノ粒子の表面電位測定

^○東康男^1,2，藤田克彦³，真島豊^1,2 (東工大応セラ研¹，ＣＲＥＳＴ－ＪＳＴ²，九大先導研³)

キーワード：ナノ粒子,KFM