PDF ダウンロード スケジュール 2 いいね! 0 [27p-B9-5] KFMによるSOI層のゼーベック係数測定 (2:15 PM ~ 2:30 PM) 三輪一聡1,鈴木悠平1,サレ ファイズ1,2,○池田浩也1 (静大電研1,学振特別研究員DC2) キーワード:ゼーベック係数、Kelvin-probe force microscopy