2013年 第60回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

06.薄膜・表面 » 6.3 酸化物エレクトロニクス

[27p-F2-1~15] 6.3 酸化物エレクトロニクス

2013年3月27日(水) 13:30 〜 17:30 F2 (E3号館 3F-303)

[27p-F2-1] 「講演奨励賞受賞記念講演」(15分)
BiFeO3強誘電抵抗変化メモリにおける界面電子構造に基づいた動作特性の制御 (1:30 PM ~ 1:45 PM)

福地厚,山田浩之,澤彰仁 (産総研)

キーワード:抵抗スイッチング、強誘電体、ReRAM