2013年 第60回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

13.半導体A(シリコン) » 13.3 絶縁膜技術

[28a-G2-1~12] 13.3 絶縁膜技術

2013年3月28日(木) 10:00 〜 13:15 G2 (B5号館 1F-2102)

[28a-G2-12] GaSb MOS界面特性に与えるGaSb酸化物の影響 (1:00 PM ~ 1:15 PM)

○(PC)横山正史1,朝倉佑吏1,横山春喜2,竹中充1,高木信一1 (東大工1,NTTフォトニクス研2)

キーワード:GaSb、半導体、MOS界面