[28p-B1-1~16] 7.1 X線技術

[28p-B1-13] Ｘ線反射率のリアルタイム計測 (4:45 PM ～ 5:00 PM)

^○桜井健次¹，Vallerie Samson¹，水沢まり^1,2 (物質・材料研究機構¹，総合科学研究機構²)

キーワード：薄膜・多層膜、埋もれた界面、時分割解析