2013年 第60回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

14.半導体B(探索的材料・物性・デバイス) » 14.3 電子デバイス・プロセス技術

[28p-G11-1~18] 14.3 電子デバイス・プロセス技術

2013年3月28日(木) 14:00 〜 18:45 G11 (B5号館 2F-2205)

[28p-G11-6] ▲Field Isolation of GaN MOSFET by Boron Ion Implantation (3:15 PM ~ 3:30 PM)

Ying Jiang1,2,Qingpeng Wang1,2,Kentaro Tamai1,Satoko Shinkai3,Takahiro Miyashita4,Shin-Ichi Motoyama4,Dejun Wang2,Jin-Ping Ao1,Yasuo Ohno1 (The Univ. of Tokushima1,Dalian Univ. of Tech.2,Kyushu Inst. of Tech.3,SAMCO Inc.4)

キーワード:GaN MOSFETs、field isolation、boron ion implantation