[28p-PB4-1~15] 6.5 表面物理・真空

[28p-PB4-11] Si(100)表面におけるD₂分子線散乱の角度分解REMPI測定 (4:00 PM ～ 6:00 PM)

^○岡本大佑¹，久保敦¹，近藤剛弘² (筑波大物理¹，筑波大物分²)

キーワード：分子線、Si、水素