[29a-G8-1~11] 12.2 評価・基礎物性

[29a-G8-5] ケルビンプローブ原子間力顕微鏡を用いた有機微結晶トランジスタの動作時における局所表面電位評価 (10:30 AM ～ 10:45 AM)

^○木村知玄¹，小林圭²，山田啓文¹ (京大院工¹，京大SACI²)

キーワード：ケルビンプローブ原子間力顕微鏡、有機半導体