2013年 第60回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

13.半導体A(シリコン) » 13.4 配線技術

[30a-G6-1~11] 13.4 配線技術

2013年3月30日(土) 09:00 〜 12:00 G6 (B5号館 1F-2106)

[30a-G6-8] ビルドアップ工法による微細Cu配線の信頼性 (11:00 AM ~ 11:15 AM)

池田淳也 (富士通研究所)

キーワード:再配線、信頼性