[14p-2S-1~13] 16.3 シリコン系太陽電池

[14p-2S-4] FTPS法を用いた光吸収評価によるa-SiO_x:H薄膜太陽電池の欠陥評価

〇松井 研人¹、伊藤 貴司¹、Abd Rahman Syazwana¹、片山 竜一¹、山川 幸輝¹、斉藤 潤²、杉山 秀一郎²、Sichanugrist Porponth³、野々村 修一¹、小長井 誠^3,4 (1.岐阜大、2.シャープ、3.JST FUTURE-PV、4.東京都市大)

キーワード：欠陥評価、アモルファスシリコンオキサイド