[15a-2N-1~9] CS3 6.6/12.2 Code-sharing session

[15a-2N-8] Development of scanning thermal gate microscopy for evaluating the local activation energy in organic thin film transistors

〇(M2C)Tzuling Huang¹, Tomoharu Kimura¹, Kei Kobayashi^1,2, Hirofumi Yamada¹ (1.Dept. of Electronic Sci. & Eng., Kyoto Univ., 2.The Hakubi Center for Adv. Res., Kyoto Univ.)

Keywords:probe microscopy,activation energy,OTFT

有機薄膜トランジスタには、金属-有機界面のキャリア注入障壁やグレイン境界などキャリアの注入や輸送を制限するエネルギー障壁が存在する。一方、デバイスの電気特性の温度依存性を調べればエネルギー障壁の活性化エネルギーを評価することができる。我々はデバイスの電流変化を可視化する走査型熱ゲート顕微鏡を開発し、金属-有機界面やグレイン境界におけるキャリア注入障壁の可視化および活性化エネルギーの評価を試みた。