2015年 第76回応用物理学会秋季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

6 薄膜・表面 » 6.3 酸化物エレクトロニクス

[16a-2H-1~13] 6.3 酸化物エレクトロニクス

2015年9月16日(水) 09:00 〜 12:15 2H (222)

座長:関 宗俊(東大)

09:15 〜 09:30

[16a-2H-2] 光化学堆積法によるAlOx薄膜の作製

〇佐藤 駿太1、市村 正也1 (1.名工大)

キーワード:光化学堆積法、酸化アルミニウム、薄膜

酸化アルミニウム(Al2O3)は大きなバンドギャップ、高い絶縁破壊電界を持つ化学的、熱的に安定な物質であり保護膜などに応用されている。酸化アルミニウム薄膜の堆積はこれまでに様々な方法で行われている。また電気化学堆積法によって堆積を行なったという報告もあり、堆積溶液にはAl2(SO4)3とNa2S2O3を溶かした水溶液が用いられている。本研究では同様の堆積溶液を用いて、安価な薄膜作製法である光化学堆積(PCD)法によってAlOx薄膜の作製を行なった。