2015年 第76回応用物理学会秋季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

13 半導体 » 13.1 Si系基礎物性・表面界面・シミュレーション

[16p-2D-1~14] 13.1 Si系基礎物性・表面界面・シミュレーション

2015年9月16日(水) 13:15 〜 17:00 2D (212-2)

座長:嵯峨 幸一郎(ソニー),森 伸也(阪大)

15:15 〜 15:30

[16p-2D-8] 分子動力学法および分子軌道法を用いたSiGe混晶内の原子間ポテンシャルに関する考察

〇富田 基裕1,2,3、小椋 厚志2、渡邉 孝信1 (1.早大理工、2.明大理工、3.学振特別研究員PD)

キーワード:半導体、分子動力学法、分子軌道法

分子動力学(MD)法を用いてSiGeのフォノンを再現するため、MD法と分子軌道(MO)法による原子間ポテンシャルに関する考察を行った。結果として本計算で使用したポテンシャルではSiGe内のフォノンを再現できなかった。MO法によりSi(8−y)GeyH18の歪エネルギーを評価したところ周辺原子に依存することを示した。MD計算にてSiGeを取り扱う場合ポテンシャルに周辺原子依存項を導入する必要がある。