Characterization of Step, Ridge, and Crack Submicro/Nanostructure on Epitaxial Graphene using Tip-enhanced Raman Spectroscopy

Sanpon Vantasin

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一般セッション(口頭講演)

3 光・フォトニクス » 3.12 ナノ領域光科学･近接場光学

[11p-A12-1~15] 3.12 ナノ領域光科学･近接場光学

2015年3月11日(水) 14:00 〜 18:00 A12 (6A-101)

14:15 〜 14:30

▼ [11p-A12-2] Characterization of Step, Ridge, and Crack Submicro/Nanostructure on Epitaxial Graphene using Tip-enhanced Raman Spectroscopy

〇(D)Sanpon Vantasin¹, Yoshito Tanaka¹, Ichiro Tanabe¹, Toshiaki Suzuki¹, Tamitake Itoh², Yasunori Kutsuma¹, Koji Ashida¹, Tadaaki Kaneko¹, Yukihiro Ozaki¹ (1.Kwansei Gakuin Univ., 2.AIST)

キーワード：tip-enhanced Raman spectroscopy,graphene nanoridge,atomic force microscopy