[12a-A28-1~12] 16.1 基礎物性・評価

[12a-A28-2] 硫化銅薄膜のギャップ内準位評価

〇後藤 民浩¹ (1.群馬大院理工)

キーワード：硫化物半導体、ギャップ内準位、光熱偏向分光法