[12a-C1-1~10] 6.2 カーボン系薄膜

△ [12a-C1-7] ダイヤモンド横型p-n接合についてケルビンプローブフォース顕微鏡による 表面電位評価と内部構造との相関

〇白田 和也^{1, 2}、竹内 大輔²、牧野 俊晴²、加藤 宙光²、小倉 政彦²、山崎 聡^{1, 2} (1.筑波大学数理, 2.産総研)

キーワード：ダイヤモンド半導体、ケルビンプローブフォース顕微鏡