[14a-A14-1~9] 3.8 光計測技術・機器

△ [14a-A14-2] 薄明視野顕微鏡法を用いた4 0 n m 金ナノ粒子の3 次元位置計測

〇(M1)後藤 和史¹、早崎 芳夫¹ (1.宇都宮大学オプティクス教育研究センター)

キーワード：干渉計測、光ピンセット