2015年第62回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

7 ビーム応用 » 7.4 量子ビーム界面構造計測

[14a-A16-1~11] 7.4 量子ビーム界面構造計測

2015年3月14日(土) 09:00 〜 12:00 A16 (6A-206)

09:45 〜 10:00

▲ [14a-A16-4] Hard X-ray photoelectron spectroscopy of epitaxially grown MxNi1-xO (M = Li, Mg)

〇(P)Rosantha Kumara1, Anli Yang1, Osami Sakata1, 2, Ryosuke Yamauchi2, Munetaka Taguchi3, Satoshi Ishimaru1, Akifumi Matsuda2, Mamoru Yoshimoto2 (1.NIMS/SPring-8, 2.Tokyo Tech., 3.NAIST)

キーワード：Oxide thin film,Electronic structure,HAXPES