[14a-A16-1~11] 7.4 量子ビーム界面構造計測

[14a-A16-9] 放射光X線回折によるSiC熱分解表面のその場観察法の開発

〇(P)吉田 雅洋^{1, 2}、河邉 文哉¹、久津間 保徳¹、堂島 大地¹、重政 英史¹、大和田 謙二²、稲見 俊哉²、玉井 尚登¹、大谷 昇¹、金子 忠昭¹、水木 純一郎¹ (1.関学大理工, 2.原子力機構)

キーワード：放射光X線回折、その場観察、SiC上グラフェン