[14p-A14-1~8] 3.8 光計測技術・機器

△ [14p-A14-6] 半導体レーザを用いたスペックルシアリング干渉計

〇平岡 幹基¹、押田 至啓¹、岩橋 善久² (1.奈良高専, 2.大阪産大)

キーワード：シアリング干渉計、ひずみ測定