15:15 〜 15:45 [13p-A32-4] 放射光ナノ顕微分光によるエネルギーデバイス界面のオペランド測定 〇永村 直佳1、堀場 弘司2、尾嶋 正治3 (1.物材機構、2.KEK物構研、3.東大放射光)