[14p-A24-1~11] 太陽電池モジュール信頼性の現状と今後の展開

[14p-A24-11] CIGSモジュールのDamp Heat試験：IEC規格へのバイアス電圧印加オプションの追加

〇櫻井 啓一郎¹、小川 錦一¹、柴田 肇¹、増田 淳¹、冨田 仁²、シュミッツ ダーシャン²、徳田 修二² (1.産総研、2.ソーラーフロンティア)

キーワード：CIGS、Damp Heat 試験、電圧印加

太陽電池モジュールのIEC規格の大規模な改訂の一環で、DampHeat試験の内容も見直しが進んでいる。ところが一部CIGSモジュールにおいては、従来の試験方法では、屋外曝露で確認されていない劣化が僅かに発生してしまう。そのため動作時に準じたバイアス電圧を印加しながら試験するオプションを提案し、改訂作業中のIEC61215-1-4のドラフト案に採用される見込みとなった。この詳細について報告する。