2016年 第77回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

6 薄膜・表面 » 6.2 カーボン系薄膜

[14p-A26-1~16] 6.2 カーボン系薄膜

2016年9月14日(水) 13:15 〜 17:45 A26 (203-204)

嘉数 誠(佐賀大)、伊藤 利道(阪大)、梅沢 仁(産総研)

17:15 〜 17:30

[14p-A26-15] ダイヤモンド電解質溶液ゲートFETのしきい値

〇(DC)稲葉 優文1、五十嵐 圭為1、楢村 卓朗1、阿部 修平1、柴田 将暢1、新谷 幸弘2、平岩 篤1、川原田 洋1,3 (1.早大先進理工、2.横河電機、3.早大材研)

キーワード:ダイヤモンド、電解質溶液ゲートFET、しきい値電圧

ダイヤモンド電解質溶液ゲートFET(SGFET)によるpHセンサは、口腔内などの生体のpHを長期にモニタリングする用途に期待されている。これまで我々はダイヤモンドSGFETを作製し、そのpHセンサ能などを報告してきた。これはノーマリーオフの特性を示している。これに対して、C-Hダイヤモンド表面にAl2O3のゲート絶縁膜兼パッシベーション膜を形成した2DEGによるダイヤモンドMOSFETは、ノーマリーオンの特性を示す。今回、C-HダイヤモンドSGFETのしきい値に焦点を絞って議論する。