[14p-A32-1~16] 6.6 プローブ顕微鏡

[14p-A32-12] イオン系表面のAFMシミュレーション

〇仙田 康浩¹、ブロンクビスト ヤンネ²、ニエミネン リスト² (1.山口大学工、2.アールト大)

キーワード：原子間力顕微鏡、分子動力学法、エネルギー減衰

非接触モードの原子間力顕微鏡（Atomic Force Microscopy，AFM ）では，
試料表面とカンチレバー先端間の原子間力により，カンチレバーの振動が減衰する。
この振動減衰のメカニズムは未だ明らかではない．
分子動力学法とバネのモデルを組み合わせたAFMの計算モデルを用いて、
イオン系物質表面でのAFMのエネルギー減衰の仕組みを解明する。
従来から提案されている減衰のメカニズムを検証するとともに，
分散力による減衰のメカニズムと比較する．