[14p-A41-1~9] フォトニクス分科会シンポジウム「フォトニクスの未来を担う研究者」

[14p-A41-6] 化学イメージング 〜飛行時間型二次イオン質量分析（ToF-SIMS）イメージングと近接場赤外顕微鏡〜

〇青柳 里果¹ (1.成蹊大理工)

キーワード：飛行時間型二次イオン質量分析、イメージング

高感度かつ100nm以下の高い空間分解能で化学イメージングを示すToF-SIMSの最新動向および質量情報が得られるSIMSとは異なる化学情報を与える近接場赤外顕微鏡との相補的な活用について紹介する。