[14p-B6-1~12] 7.5 イオンビーム一般

△ [14p-B6-9] 画像処理によるアルゴンを用いた電界イオン顕微鏡の観察範囲の拡張

〇(M1)西村 知紗¹、辻 博司¹、後藤 康仁¹ (1.京都大学)

キーワード：電界イオン顕微鏡、アルゴン、画像処理

アルゴンを用いたタングステン表面の電界イオン顕微鏡像は部分的であり、全体像が確認できない。印加電圧上昇とともに変化する像を記録した動画を1秒ごとに静止画として切り出し、それをディジタル技術を用い画像処理することで、タングステン表面全体の電界イオン顕微鏡像を得た。