2016年 第77回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

13 半導体 » 13.2 探索的材料物性・基礎物性

[15a-B3-1~9] 13.2 探索的材料物性・基礎物性

2016年9月15日(木) 09:00 〜 11:15 B3 (展示控室3)

末益 崇(筑波大)、山口 憲司(量研機構)

09:30 〜 09:45

[15a-B3-3] P+およびSb+イオン注入Ge薄膜へのレーザーアニールの影響

〇(M1)酒井 駿也1、山村 和也1、西垣 宏1、蓮池 紀幸1、播磨 弘1、Woo Sik Yoo2 (1.京工繊、2.WaferMasters Inc.)

キーワード:ゲルマニウム、不純物、レーザーアニール