[15p-P10-1~21] 13.9 光物性・発光デバイス

[15p-P10-21] InP厚膜におけるZ-scan法による非線形屈折率の測定条件の検討

〇池田 優輝¹、三谷 智也¹、大石 真樹¹、松末 俊夫¹、坂東 弘之¹ (1.千葉大院融合)

キーワード：Z-scan、InP、非線形屈折率