[16a-C42-1~11] 1.5 計測技術・計測標準

[16a-C42-2] 光ファイバーエタロン型低コヒーレンス干渉による幾何学量の絶対測定

〇松本 弘一¹、高増 潔¹、杉村 彰紀² (1.東大工、2.アダマンド㈱)

キーワード：低コヒーレンス干渉計、光ファイバーエタロン、トレーサビリティー

光ファイバーファブリー・ペローエタロンを開発し，ブロードスペクトル光源による低コヒーレンス干渉計測技術に応用した．この結果，従来の光コム技術では実現しにくい機能を生かした応用干渉計測が実現できることが分かった．