2016年第63回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

7 ビーム応用 » 7.1 X線技術

[19p-H137-1~17] 7.1 X線技術

2016年3月19日(土) 13:15 〜 17:45 H137 (本館)

佐々木 明(原子力機構)、江島 丈雄(東北大)

15:00 〜 15:15

[19p-H137-8] マイクロフォーカスX線源と振幅格子を用いたX線位相イメージングの検討

〇(B)細野 凌1、森本 直樹1、伊藤 康浩1、山崎 周1、佐野 壱成1、土岐 貴弘2、佐野 哲2、細井 卓治1、渡部 平司1、志村 考功1 (1.阪大院工、2.島津製作所)

キーワード:X線位相イメージング、振幅格子、マイクロフォーカスX線源

X線Talbot–Lau干渉計は位相格子を用いてX 線の位相シフトを計測する手法である。一方、加工技術の向上により、高アスペクト比の構造を持った振幅格子が作製できるようになってきた。そこで今回は位相格子ではなく振幅格子を用いた光学系についてその有用性を検討した。本光学系では全長を自由に設定することができ、実際に既存のマイクロフォーカスX線源と組み合わせることで、簡便に位相微分像を取得することに成功した。