[19p-P4-1~17] 13.5 デバイス／集積化技術

△ [19p-P4-11] P型Si二重量子ドット内の少数正孔領域でのパウリスピンブロッケードの観測

〇(M2)岩崎 一真¹、小寺 哲夫²、小田 俊理^1,2 (1.東工大量子ナノ研セ、2.東工大電子物理)

キーワード：量子ドット、正孔、シリコン