2016年第63回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

CS コードシェアセッション » CS.4 6.6プローブ顕微鏡, 12.2評価・基礎物性のコードシェアセッション

[20a-W631-1~13] CS.4 6.6プローブ顕微鏡, 12.2評価・基礎物性のコードシェアセッション

2016年3月20日(日) 09:00 〜 12:30 W631 (西6号館)

田中 啓文(九工大)、松原 亮介(静岡大)

09:15 〜 09:30

[20a-W631-2] AFMによる有機分子の高分解能室温観察

〇(DC)岩田 孝太1、山崎 詩郎2、Mutombo Pingo3、Hapala Prokop3、Ondracek Martin3、Jelinek Pavel3、杉本 宜昭1,4 (1.阪大院工、2.東工大総理工、3.チェコ科学アカデミー、4.東大新領域)

キーワード:原子間力顕微鏡、有機分子、半導体表面

近年、原子間力顕微鏡(AFM)による有機分子の化学構造の観察が盛んに行われているが、実用上で重要な室温での測定結果はまだ報告されていない。本研究では、Si(111)-7x7表面上に蒸着した有機分子のAFM測定を行い、AFMによる化学構造の観察に室温では初めて成功した。また、探針‐試料間相互作用力を測定することで探針の活性度を評価した結果、探針の状態に依存せず、化学構造の観察が可能であることが分かった。